Phân tích lớp phủ với độ nhạy tăng
Một kỹ thuật thường được sử dụng trong phân tích nhiễu xạ tia X của lớp phủ đa tinh thể hướng ngẫu nhiên là tăng độ nhạy của tín hiệu XRD bằng cách áp dụng góc tới nhỏ của tia X. Trong dạng hình học như vậy, phân tích ứng suất dư cổ điển không còn có thể áp dụng. Để khắc phục hạn chế này, Malvern Panalytical và đối tác liên kết của mình, Viện Max Planck Stuttgart (Đức), đã phát triển các thay đổi tiên phong trong phân tích ứng suất sin²ψ cổ điển. Dữ liệu từ nhiều đỉnh {hkl} được kết hợp và một thuật toán chuyển đổi tính toán độ nghiêng ψ thực sự cho tất cả những tổ hợp có thể có của các góc thiết bị.
Phân tích các lớp phủ với hướng ưu tiên rõ rệt
Một hướng ưu tiên đôi khi được áp dụng có chủ ý cho lớp phủ để tăng cường các đặc tính của chúng, ví dụ như để tối đa hóa khả năng chống mài mòn của chúng. Giống như lớp phủ có độ nhạy tăng cường, việc phân tích ứng suất sin²ψ truyền thống là không thể trên các vật liệu có hướng ưu tiên. Thay vào đó, dữ liệu được thu thập bằng cách áp dụng độ nghiêng cho các lần quét đối xứng thông thường để đo các mặt phẳng mạng tinh thể, không song song với bề mặt mẫu. Stress Plus cho phép dữ liệu từ các đỉnh {hkl} khác nhau, mỗi đỉnh có độ nghiêng riêng, kết hợp trong một biểu đồ sin²ψ được điều chỉnh. Stress Plus tự động tính đến sự thay đổi mức đỉnh do ứng suất, gán các chỉ số Miller chính xác đồng thời xác định lớp phủ và chất nền hoặc các đỉnh lớp phụ.
Dễ dàng cài đặt và sử dụng
Các phép đo ứng suất dư trên lớp phủ được hỗ trợ đầy đủ trong cả Data Collector và Stress Plus. Data Collector chứa các chương trình đo đạc đặc biệt để thiết lập phương pháp thu thập dữ liệu. Stress Plus lấy tất cả các tham số từ file .XRDML và sinh ra các giá trị ứng suất dư theo cách trực quan tương tự như chương trình Stress.
Tự do thực nghiệm
Stress Plus tính toán tất cả các kết quả trung gian và dữ liệu cuối cùng của ứng suất ngay lập tức. Ảnh hưởng của tất cả các tham số được phản ánh trực tiếp trong kết quả cuối cùng. Tùy chọn phân tích các bộ dữ liệu kết hợp từ nhiều file dữ liệu mang đến sự tự do thực nghiệm hoàn toàn. Dữ liệu bổ sung có thể được thêm vào bất cứ lúc nào. Các giá trị mặc định có thể tự cấu hình và khả năng tính toán lại kết quả ngay lập tức dựa trên sự thay đổi của các tham số đầu vào giúp Stress Plus trở nên lý tưởng đối với cả các ứng dụng nghiên cứu và phân tích thông thường.